详细说明
主要特点
可用于晶振老化测试和温度测试，自动完成老化漂移、稳定度、准确度、日波动等参数的测量
通过射频开关的组合，可组成64-N路测试矩阵
自动记录储存测试数据，自动形成测试曲线
主要技术指标
频率范围：DC～100MHz
隔离度：120dB(5MHz); 90dB (100MHz)
上一条：SD6000微波与卫星通信系统 下一条:SD1103锂电池测试系统
固话：0311-83897149
网址:www.suintest.com
地址：中国·河北省·石家庄鹿泉区御园路99号A-2
工作时间：周一至周五8:00-17:15
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主要特点
可用于晶振老化测试和温度测试，自动完成老化漂移、稳定度、准确度、日波动等参数的测量
通过射频开关的组合，可组成64-N路测试矩阵
自动记录储存测试数据，自动形成测试曲线
主要技术指标
频率范围：DC～100MHz
隔离度：120dB(5MHz); 90dB (100MHz)
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